K系列 是為處理各種樣品的質量部門開發(fā)的。 它在高度高達12英寸(304毫米）的零件上具有領先的12英寸（304毫米）x 9 英寸（228 毫米）可測量區(qū)域。
自動多準直器允許選擇光斑尺寸以適應各種特征尺寸； 可變相機允許在 25 英寸至3.5 英寸的焦距范圍內(nèi)進行測量。 您若對該產(chǎn)品感興趣，歡迎通過電話或微信公眾號進行進一步溝通、查詢！ 
K系列伺服電機驅動的可編程平臺可實現(xiàn)快速、精確的可編程樣品定位。 懸臂門設計使操作員可以輕松放置樣品。 可用的表格視圖功能可對整個可測量區(qū)域進行成像，并允許操作員只需單擊一下即可導航到任何位置。 可用的內(nèi)置操縱桿使操作員可以從系統(tǒng)的控制面板移動 XY 平臺，無需軟件干預。
標準 K 系列配置包括 4 位（4,8,12、24、2 和 2 mil）多準直器； 可選尺寸為 60xXNUMXmil 至 XNUMXmil。 可變焦便于在凹陷區(qū)域進行測量。 伺服電機驅動的可編程平臺允許使用可選的 XYZ 程序進行零件測量。 程序可以使用模式匹配和自動對焦來確保精確的測量。 與所有 Bowman XRF 系統(tǒng)一樣，K 系列配備標準硅漂移探測器 (SDD) 和長壽命微焦點 X 射線管。
K 系列 XRF 符合 ASTM B568、ISO 3497 和 IPC-4552 標準。
產(chǎn)品規(guī)格
| 元素測量范圍： | 13號鋁元素 到 92號鈾元素 |
| X射線管： | 50 W（50kV 和 1mA）微聚焦 W 陽極管（可提供 Cr、Mo、Rh 陽極） |
| 探測器： | 190eV及以上分辨率的Si-PIN固態(tài)探測器 |
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分析層數(shù) 及元素數(shù)： |
5 層（4 層 + 基礎），每層 10 個元素。 同時分析多達 30 種元素的成分 |
| 濾波器/準直器： | 4位置一次濾波器/ 4種規(guī)格準直器 |
| 焦距： | 具有激光和圖像自動對焦功能的多個固定焦深 |
| 數(shù)字脈沖處理： | 4096 CH 數(shù)字多通道分析儀，整形時間靈活。 自動信號處理，包括死區(qū)時間校正和逃逸峰值校正 |
| 計算機： | Microsoft Windows 10/11 Prof，64 位等效版本 |
| 相機： | 2x 1/3″ CMOS- 2688×1520 分辨率 |
| 視頻放大倍率： | 30 倍微距和 7 倍數(shù)碼變焦：標準； 55X微型可選 |
| 電源： | 480W，100?240V; 頻率范圍為47Hz到63Hz |
| 重量： | 270 磅/120 公斤 |
| 可編程XY平臺： |
工作臺尺寸：12 英寸（304 毫米）x 12 英寸（304 毫米） XY 行程：12 英寸（304 毫米）x 12 英寸（304 毫米） |
| 樣品倉尺寸： | 高度：609mm（24"），寬度：609mm（24"），深度：228mm（9"） |
| 外形尺寸： | 高度：712mm（28"），寬度：928mm（36.5"），深度：674mm（26.5"） |
K系列XRF最適合有以下要求的客戶：
-保證符合IPC-4552、4553、4554及4556
-卓越的人體工程學設計：輕松訪問、可編程載物臺、靈活的行程
-符合ASTM B568及ISO 3497標準
-RoHS能力
